BL08U1A

软X射线谱学显微光束线站
实验方法原理

软X射线激发光致发光技术（SXEOL）

发布时间：2024-08-02
XEOL探测的是样品在被X射线激发后，退激发过程中所发出的紫外到近红外波段（200-900nm）的光子。XEOL和TEY结合在研究半导体材料的价带和导带间的信息如带隙，缺陷态及能量转移过程等具有极大的优势。
二维的XEOL-TEY谱图
纳米氧化锌O K edge的PLY谱与TEY吸收谱

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