BL08U1A

软X射线谱学显微光束线站
实验方法原理

软X射线荧光吸收谱(PFY)

发布时间:2024-08-02

  荧光吸收谱(PFY):X光子将内壳层电子击出后,价轨道电子回到内壳空穴,同时释放另一个X光子(能量稍低),此即为荧光光子,对于软X射线产率约为1%。优势:低含量元素样品,更多样品体相信息。

  荧荧光吸收谱原理图
  软 X 射线荧光吸收谱通过部分荧光产额 (PFY) 模式收集。PFY测试系统由硅漂移探测器 (SDD),数据采集电子学设备 (PX5),真空内可调节支架,真空导线和真空连接法兰组成。腔体内部构造如右图所示,入射软X射线与样品,以及样品与SDD 探测器探头法线方向均呈大约 45 度夹角。
  
  富锂氧化物正极材料反应活性调控
  富锂锰基层状氧化物正极材料因具有比容量高等优点而受到很大关注。本研究提出了一种集LiSnO3包覆、Sn掺杂及尖晶石异质结构三位一体的富锂氧化物材料改性策略,能显著改善氧离子氧化还原反应活性和可逆性,减少氧气不可逆释放。同时,库伦效率、比容量、倍率特性及循环性等均获得明显改善。荧光模式获得的O-K边XAS谱证明含有氧空位和尖晶石结构的材料增强了阴离子氧化还原的可逆性。该研究对于提高正极材料的电化学性能具有重要指导意义。[Adv. Funct. Mater. 2019, 1806706]

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