调节X射线的偏振方向，分别用右旋光和左旋光对样品进行扫描透射成像，将两次图像相减，即得到样品的磁畴显微图像。
(A-C) 分别为圆、方、三角磁性微结构的STXM显微图像，各图形的尺度为2um; (D-F)为微磁学模拟三种结构中的磁畴分布; (G-H)中红点表示(A-C) 中红色圆上各点的水平磁化强度; 蓝点表示(D-F)中相应位置的水平磁化强度。[Acta Physica Sinica 64, 197502 (2015)]
扫描相干衍射成像(Ptychography)方法的磁畴成像（左、中）与STXM磁畴成像结果的对比，显示ptychography进一步提升了磁畴成像的分辨率。
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