当物质中的电子密度不均匀区在纳米尺度（一般介于0.1~200nm 之间）时，X 射线与之相互作用后在原光束方向附近的很小角度内散开，这个角域范围在几度（一般<3°）以内，这种现象称为小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering，简写为SAXS）。由于X 射线是与原子中的电子发生相互作用，所以SAXS对电子密度的不均匀性特别敏感，凡是存在纳米尺度电子密度不均匀区的物质均会产生小角散射现象。

上海光源小角散射线站可以提供的实验技术有SAXS, WAXS, ASAXS, GISAXS,以及时间分辨的SAXS技术，本实验站SAXS技术可探测1~240nm的空间尺度范围。

本线站的主要应用领域如下：

1）研究高分子材料内部的片晶、孔洞等缺陷的微结构，以及高分子材料加工过程中的结构演变。

2）研究高性能纤维材料内部的缺陷微结构，及在纺丝成型过程中的动态结构演变。

3）研究胶体系统、纳米颗粒及多孔材料中散射体的尺寸分布、界面层及分形结构。

4）研究金属合金中的颗粒或聚集态结构及冷热加工变形后的结构变化。

1)         X射线小角散射（SAXS）和X射线广角散射（WAXS）

2)         掠入射X射线小角散射（GISAXS）和掠入射X射线广角散射（GIWAXS）

3)         X射线小角/广角散射联用（SAXS/WAXS）

4)         X射线小角反常散射（ASAXS）

ASAXS不仅能够探测出微相析出的尺寸分布，可以辨别析出的元素种类。

SAXS的应用领域非常广泛，样品有块状固体、粉末、液体等状态。SAXS样品制备的原则是在单位时间内获得较强的散射信号，主要取决于样品对散射信号的吸收。

当X射线通过任何物质时，一部分X射线透过物质，另一部分则被物质吸收。设强度为I0的X射线透过厚度为t物质后的强度为I，μ为X射线通过单位厚度物质被吸收的比例,称为线吸收系数，X射线通过物质时，将按照指数规律迅速衰减。入射光强和出射光强有如下关系：

I=I₀e^-μt

高分子材料样品建议厚度选择在0.5-2mm。

铝合金样品建议厚度选择在100-200μm。

轻合金样品建议厚度选择在100-200μm。

铁、铜和锌样品建议厚度选择在30-40μm。

溶液样品的样品池厚度采用1mm左右，常用的有水溶液和酒精溶液等。溶液样品浓度要求：以蛋白为例，一般为几个毫克/毫升。

实验站现用的溶液样品池如下图：

实验站通过程序自动化控制进行数据采集，所获得的数据直接存入磁盘阵列服务器，数据输出格式为tif格式，用户可用Fit2D进行数据处理及分析。