（1）发射谱站样品准备方法：
a) 实验站的样品托为钼(Mo)托, 样品托尺寸18mm×15mm。所测样品包括薄膜、固体或晶体，粉末样品应提前做压片处理，固体样品厚度应该<5mm。
b) 测试环境为超高真空(~1.0×10−8torr)，样品应不具备挥发性，在软X光照下能保持结构稳定，有毒性和含辐射样品应该提前和线站人员沟通，并遵循上海光源用户规范中的样品报备、储存和运输要求。
c) 如需测量样品的近边吸收谱（TEY模式），需要样品具备基本的导电性（上下表面间电阻<1兆欧）， 在室温下测试的样品用真空兼容胶带固定。导电性差的样品可用铜/银胶固定，其他样品通常用碳胶固定。
图7. 发射谱站样品托上样品粘贴布局
样品托上的样品粘贴布局参照图7。建议采用2×2布局，中部贴带荧光粉胶条以示光斑位置，便于快速对准样品。四边留空至少3mm，避免插入样品架时被卡槽碰落。
变温测试需要使用其他类型的样品托。请与线站人员联系。
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