探测器：
（A）TEY测量系统：包括样品金属架和导线、皮安计、I0监测金网等，用于全电子产额吸收谱的测量。
（B）硅漂移探测器：用于荧光产额吸收谱的测量。
（C）XEOL光纤探头：用于X射线激发可见光谱的测量。
样品台：
（A）四轴高精度运动机构：包括三维平移轴和一维旋转轴，用于调节样品位置和切换样品。
原位条件设备：
（A）VTI冷冻杆：用于冷冻样品的导热及温度控制，最低温度可达15K。
（B）压缩机：用于冷冻样品时液氦的循环压缩。
（C）热电偶加热系统：用于原位加热样品，最高可到100摄氏度。
（D）电磁铁：用于对样品原位施加磁场，场强最高可达4800高斯。
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