BL08U1A

软X射线谱学显微光束线站
实验方法原理

全电子产额谱(TEY)

发布时间:2024-08-02
X光子将内壳层电子击出后,价轨道电子回到内壳空穴,释放的能量激发另一个价电子到自由态,产生俄歇电子或二次电子,产率高达99%。
电场控制离子导致的结构相变在物理及材料科学中具有重要意义,并被广泛应用于电池、智能玻璃、燃料电池等应用领域。借助软X射线吸收谱测量了三态相变样品在金属钴的L吸收边和氧的K吸收边的相变响应(右图)。分析发现材料随着离子插入、析出的电子态变化的直接证据,这为进一步理解相变过程以及所对应的丰富物性提供了重要的依据。[Nature 2017, 546, 124]

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