* 透射XAFS

适用于浓度不太低（一般质量百分含量不小于1%）的样品。光路为直线，样品置于前后两个一样配置的离子电离室之间。

* 荧光XAFS （SSD、SDD、Lytle）

适用于低浓度样品，质量百分比可低至1ppm（10^-6）；探测光路如下，荧光探测器根据需要可选用lytle 荧光电离室（浓度不是非常低的样品）、32 元高纯Ge 固体探测器（低浓度样品），或硅漂移探测器（方便架设在多种位置）。

* 掠入射XAFS （GI-XAFS）

掠入射XAFS 方法（GI-XAFS）以很小的角度掠入射到样品表面，X射线透入样品的深度很小，信号主要来自近表面原子，增加了表面敏感度，适合研究薄膜材料的表面结构。

※ 此方法为非常规实验方法，需在预约实验时就提出申请，并与线站讨论实验方法，不接受临时申请。

* 快时间分辨XAFS

快速数据采集实验（QXAFS实验）是一种时间分辨的实验方法，能够在极小的时间尺度上原位实时地观察物质的瞬态原子结构和电子结构变化。BL14W1线站目前建立的QXAFS系统可实现分钟到秒量级的数据采集。

※ 此方法为非常规实验方法，需在预约实验时就提出申请，并与线站讨论实验方法，不接受临时申请。

* 原位XAFS

线站成员自主研发设计的原位池可以实现77-800K的温度范围，具有变温速率可控、透射荧光采集、死体积小、信噪比好等特点。此外，还可实现8×10^-3Pa-0.2MPa可变气压环境，能够适应各种原位研究的需求。

※ 鉴于原位池样品适用范围，相关设备不提供公共使用，如有需要请联系线站人员合作使用。

* 高压（微束）XAFS (<50μm)

高压EXAFS方法一般需要聚焦光斑在50μm以下。BL14W1线站发展了毛细管透镜聚焦的实验方法（毛细管工作距离为12mm），将样品处光斑成功聚焦到了50μm以下，压力可达到30GPa以上。利用毛细管聚焦相对于K-B镜有两个突出优点：1)由于毛细管接收角度大，光通量传输效率高，一般能达到20%以上；2)由于聚焦光的发散角很大，可以有效消除衍射峰带来的影响，有利于高压EXAFS获得较好的实验数据。

※ 此方法为非常规实验方法，需在预约实验时就提出申请，并与线站讨论实验方法，不接受临时申请。