点谱扫描：得到样品特定区域的元素近边吸收谱。

双能衬度成像法：可半定量地得到样品中该元素的二维空间分布信息及元素含量。

能量堆栈法：得到样品中含有该元素的若干种化学成分的信息，包括各成分的近边吸收谱，以及各成分在二维空间上的分布情况。

全电子产额法(TEY)：是测量X射线近边吸收谱的实验方法，侧重于样品界面的元素信息。

Nano-3D-CT: 元素识别+三维结构

软X-ray 激发发光光谱（SXEOL): 探测发光材料在软X射线激发下发出的紫外到近红外波段的光子，与TEY结合可用于研究材料的发光机制。

X射线线二色谱 / 圆二色谱：利用线偏振态或圆偏振态的X射线研究样品的磁学性质。

X射线相干衍射成像（CDI）: 可实现低于10nm的空间分辨率。正在发展中，可供部分用户尝试。