光束线指标：

能量范围： 4.8~28keV

能量分辨率： 2×10^-4@10keV

样品处光斑尺寸： 160×80 µm²

光束发散角： 200×60 µrad²

样品处光子通量： 5.5×10¹² phs/s @10keV      

实验站1 设计为通用表面衍射实验站，可以实现各种表面衍射方法的测量，同时兼顾原位实验，具有较大的实验空间进行各种原位设备安装。

实验站2专注于液体的表面界面研究，兼顾超高真空环境，具备原位测试腔体。

在表面衍射线站将重点开展以下测量方法：

1)  掠入射X射线衍射（Grazing Incident X-ray Diffraction），可以用于测量薄膜面内和不同深度的结构信息，广泛应用于半导体、功能氧化物和软物质薄膜材料的结构测定；

2)  X射线反射率（X-ray Reflectivity）可以测量多层膜的层状结构、厚度、电子密度和表面界面粗糙度等，可以进行各种表面和界面的结构测定；

3)  晶体截断杆扫描（Crystal truncation rods） 可以进行原子尺度上表面和界面结构的测定，广泛应用于外延薄膜和晶体表面结构测定，如重构、吸附和驰豫等研究；

4)  液体散射（Liquid X-ray scattering）：可以进行液体表面和界面的结构测定。

除了可以实现以上测试方法，根据用户需要还可以提供共振散射、漫散射和倒易空间扫描的测试。

衍射仪：多功能衍射仪、液体衍射仪

探测器：闪烁晶体探测器、pilatus2M、eiger500K、eiger4M、荧光探测器，

原位设备：高低温 300K-1500K、300K-600K、77k-400K

l  样品准备方法

薄膜样品：尺寸大于3×3mm

l  数据采集及处理

一维数据：origin等

二维面探测器数据：fit2d、maud等