1）常规X射线吸收精细结构谱（XAFS）
该方法对待测元素局域结构敏感且不受其他元素干扰、不依赖于长程有序结构，对样品形态有很强的包容性，是研究物质局域结构和电子结构的有力工具。XANES显示的吸收边位置可以有效帮助判断目标元素价态；边前峰包含了物质的对称性信息；进一步拟合计算，可以获取物质三维空间结构。对于EXAFS，可以通过拟合获取物质的配位元素种类、配位数、无序度等结构信息。
2）高分辨发射谱（XES）及 高分辨荧光吸收谱（HERFD-XAS）
► XES来源于外壳层电子向芯能级核空穴的跃迁，其末态为外壳层的核空穴，因此寿命展宽更低、具有高能量分辨率，可以区分C、N、O等散射能力非常接近的配体。
► HERFD-XAS是对共振非弹性X射线散射谱进行的积分，与传统XAFS相比，提供了更为精细的价态和电子结构信息，同时也使得由物质结构变化导致的谱学特征变化更为明晰（边前峰、肩峰等都具有更高的分辨和特征强度）。
3）硬X射线拉曼光谱（XRS）
拉曼谱本质上是一种X射线非弹性散射过程。在光进-光出的过程中，光子的能量和动量均发生改变，包含重要的电子结构信息。收集出射的非弹性散射光子进行分析，可以得到与XAS谱类似的信息。与XAS不同之处在于，XRS的入射光子能量不要求在元素吸收边附近，因此可以用硬X射线获得C/N/O 等轻元素K-edge以及过渡金属L-edge 吸收谱。