物质内部纳米尺度结构的X射线全场纳米成像研究。
线站主要参数 | |
光源 |
弯铁 |
成像模式 |
TXM,Nano-CT |
能量范围 |
5-14keV |
能量分辨率(ΔE/E) |
2×10-4@8keV |
空间分辨率 |
20 nm @8keV (TXM) |
样品处光通量 |
1.8×1010phs/s @8keV |
实验方法 |
使用软件 |
软件介绍 |
TXM |
Image J, ImagePro…… |
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CT |
AduRecon |
AduRecon 的设计引入了数据抖动校准,相位恢复,环状伪影消除等多项针对纳米成像数据处理的技术。在获得清晰单张切片的基础上,生成连续切片体文件。 用户可后续导入Avizo再进行图像分割三维重构。 |
谱学成像 |
TXM-Wizard, PyXAS,TXM-Sandbox…… |
TXM-Wizard download | SourceForge.net |