物质内部纳米尺度结构的X射线全场纳米成像研究。
| 线站主要参数 | |
| 光源 | 弯铁 |
| 成像模式 | TXM,Nano-CT |
| 能量范围 | 5-14keV |
| 能量分辨率(ΔE/E) | 2×10 -4 @8keV |
| 空间分辨率 | 20 nm @8keV (TXM) |
| 样品处光通量 | 1.8×10 10 phs/s @8keV |
| 实验方法 | 使用软件 | 软件介绍 |
| TXM | Image J, ImagePro…… | |
| CT | AduRecon | AduRecon 的设计引入了数据抖动校准，相位恢复，环状伪影消除等多项针对纳米成像数据处理的技术。在获得清晰单张切片的基础上，生成连续切片体文件。 用户可后续导入Avizo再进行图像分割三维重构。 |
| 谱学成像 | TXM-Wizard, PyXAS,TXM-Sandbox…… | TXM-Wizard download | SourceForge.net |
