图1. X射线小角散射原理示意图
X射线散射基本原理是当X射线照射到样品上时，如果样品内部存在纳米尺度的电子密度不均匀区，则会在入射光束周围的一定角度范围内出现X射线散射信号。不同尺度的微观结构可以形成不同角度的散射，包括小角X射线散射（SAXS, >1 nm）、广角X射线散射（WAXS，<1 nm）。X 射线散射是研究材料纳米尺度结构的重要实验手段，高分子结晶、嵌段共聚物的微相分离、纳米填料、纤维微孔等微观结构尺寸都处于该范围内。
图2. X射线小角散射探测尺度范围
表1. X射线小角散射得到的结构信息
| 体系 | 从SAXS（WAXS）能得到的信息 |
| 单分散颗粒体系 | 颗粒尺寸、颗粒形貌（球状、棒状或片状），径向电子密度分布，分子量 |
| 高分子体系 | 相关长度，卷绕度结晶区和非晶区的相畴结构（取向、尺寸），晶格结构 |
| 液晶体系 | 长周期结构，长程有序度，晶格对称性和尺寸 |
| 粉末体系 | 平均粒径、粒度分布、比表面积等 |
| 能量范围： | 5 ~ 15 keV |
| 能量分辨率： | 4.4 × 10-4 @ 10keV |
| 光子通量： | 2 × 1011 phs/s @ 10keV |
| 聚焦光斑尺寸： | 0.5(h) × 0.5(v) mm2 @ 10keV |
| SAXS测量尺度： | 1-80 nm (q range at 10keV : 0.078 ~6.28 nm-1) |
