实验站 1 - ARPES 角分辨光电子能谱实验站（ARPES）
ARPES实验站配备了Scienta DA30L电子能量分析器、集成VLEED自旋探测器，通过Deflection采谱模式实现高效费米面测绘，尤其适用于小尺寸或表面不平整样品。样品姿态调节配备了6轴开循环低温样品架，包含3个平移自由度和3个转动自由度，提供高精度样品姿态操控，方便地获取动量空间大范围电子结构的测量；样品附近最低温可达4K，为材料低温相变研究提供契机。
真空系统方面，ARPES配备了进样腔、中转腔、退火腔、样品准备腔和测量腔。其中进样腔预留6个样品停放位位；退火腔可进行样品表面的氩刻和退火处理；样品准备腔配有低能电子衍射(LEED)和K-cell，对样品表面进行样品表面结构探测与电子掺杂调制。
主要方法：UVU/Soft X-ray/ Resonant ARPES
图1. VLEED自旋探测器及测试结果
图 2 ARPES应用举例
实验站 2 - 光电子显微镜（PEEM）
PEEM基于光电效应，为固体材料表面性质研究提供了高空间分辨率、化学成分分辨的多模式实验平台。PEEM实验站主体为Elmitec PEEM系统，已集成高性能能量分析器；所采用的光源处了X射线同步辐射以外、还配备汞灯和飞秒激光以满足不同的实验需求。利用飞秒激光的时间分辨能力，实验站已实现超快PEEM方法，满足对表界面动态过程的研究要求。
主要方法：LEEM，MEM，LEED，UV/X-ray/Laser-PEEM，Spectroscopy
图3 PEEM装置及样品托示意图
图4 PEEM应用举例
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