X射线波前检测技术（X-ray Wavefront Metrology, XWM）是一种表征波前和光学元件的原位检测方法，具有10 nrad的高角度灵敏度。该方法允许在实际条件下（例如：超高真空环境、光子产生的热负载、机械夹持和振动）测试复杂的光学系统，提供真正需要的信息，以了解特定光学系统的性能。该检测平台具备反射元件、透射元件与衍射元件的波前检测能力，可快速获得二维波前形变结果。

图7. 反射镜波前检测结果

图8. CRL波前检测结果