科学目标
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X光学测试线是上海光源二期工程首批建成的光束线站之一，其科学目标是利用同步辐射在线检测技术，对光束线设备、光学元件以及实验站探测器等进行检测，并为X射线探测器研发及X光学技术发展提供检测平台，满足上海光源线站工程建设及X光学技术发展的需求。X光学测试线是基于弯铁（09B）光源的光束线，其能量范围为4-30keV。测试线供光模式灵活多变，可提供非聚焦白光、准直白光、非聚焦单色光、聚焦白光和聚焦单色光。
线站布局图
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图1. X 光学测试线光学布局图
图2. X光学测试线供光模式
线站指标
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| 光子能量范围 | 4-30 keV(单色光) |
| 能量分辨率(ΔE/E) | 3.95× 10-4@10keV |
| 光斑尺寸 | 0.3×0.36mm2(@10keV) 聚焦 |
| 4×100mm2直通 | |
| 光通量@10keV | 3.6×1011phs/s (@10keV, 300mA) |
实验站
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图3. X光学测试线实验站检测区域
1）检测能力
►晶体单色器：
Bragg轴重复性精度；出射光束位置/指向稳定性；能量分辨率、通量稳定性；热形变；
►分光晶体：
本征角宽度；髙指数面晶体定向；抛光、腐蚀、非对称切割等影响；
►反射镜、多层膜：
反射率；膜层几何参数；
►压弯机构：
聚焦效果；光束位置/指向稳定性；
►单色光狭缝：
刀口形状，平行度；单向运动定位精度；
►光束位置探测器：
测量精度/分辨率标定；重复性、稳定性；
2）检测方法
►衍射方法：
a)X射线高分辨衍射（△E/E=10-6）；
b)高能劳厄X射线衍射；
c)微束白光劳厄衍射；
►成像方法：
a)X射线晶体形貌术；
b)白光快速成像；
c)X射线波前检测技术；